熒光測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述：XDL 210 熒光測(cè)厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)、銀行、首飾銷售和第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及電鍍行業(yè)無(wú)損檢測(cè)鐵鍍鋅、鐵鍍鉻、銅鍍鋅、銅鍍鎳、銅鍍金等各類金屬鍍層厚度測(cè)試。

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

詳細(xì)介紹

　　產(chǎn)品名稱及型號(hào)：熒光測(cè)厚儀 XDL 210

　　制造商：三思永恒科技（浙江）有限公司

　　說(shuō)明：圖片僅供參考，您訂的機(jī)器可能與圖不全一致

　　一、產(chǎn)品主要功能及應(yīng)用領(lǐng)域：

　　XDL 210 熒光測(cè)厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)、銀行、首飾銷售和第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及電鍍行業(yè)無(wú)損檢測(cè)鐵鍍鋅、鐵鍍鉻、銅鍍鋅、銅鍍鎳、銅鍍金等各類金屬鍍層厚度測(cè)試。

　　二、技術(shù)參數(shù)：

　　1、元素分析范圍：從硫（S）到鈾（U）；

　　2、一次可同時(shí)分析3層以上鍍層；

　　3、鍍層厚度分析檢出限可達(dá)0.01μm；

　　4、探測(cè)器能量分辨率為145±5eV；

　　5、配置小孔準(zhǔn)直器，測(cè)試光斑在0.1mm以內(nèi)；

　　6、長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1μm（對(duì)于小于1μm的最外層鍍層）；

　　7、多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1μm（對(duì)于小于1μm的最外層鍍層）；

　　8、分析厚度一般為0.1μm到50μm之間（視材料而不同）；

　　9、應(yīng)用于金屬電鍍層厚度的測(cè)量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu、Ni/Cu/Fe、Au/Ni/Cu等；

　　熒光測(cè)厚儀

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